Главная страница « Научно-исследовательский семинар «

В докладе рассматривается задача автоматического построения тестовых программ для тестирования модулей управления памяти моделей микропроцессоров.

Системное тестирование микропроцессоров (core-level testing) состоит в проверке работы микропроцессора на заранее подготовленных или сгенерированных тестовых программах. Системные тесты проверяют микропроцессор в целом, поэтому размер набора таких тестов может оказаться чрезвычайно большим. Важной задачей является генерация тестов, направленных на проверку отдельных механизмов микропроцессора, особенно, если реализация таких механизмов является сложной и поэтому с большой вероятностью может содержать ошибки. Такая целенаправленная генерация позволяет одновременно сократить размеры тестового набора и повысить качество тестирования сложных механизмов. К числу таких сложных механизмов относится механизм управления памяти (memory management unit - MMU), который отвечает за организацию виртуальной памяти и кэширование данных основной памяти.

В целом предлагаемый подход можно определить как генерация тестов на основе моделей: тестовые ситуации, на которые нацеливается тестовая программа, особенности функционирования самого микропроцессора обусловленные функциями модуля управления памяти формализуются в виде набора моделей, которые используются для автоматизации построения тестовых программ. Предлагаемый метод сводится к построению системы ограничений на основе моделей.